大塚电子Otsuka测量系统ELSZneo主要技术特点

日本大塚电子（Otsuka Electronics）生产的 ELSZneo系列测量系统。这是一款用于表征纳米至微米级颗粒及表面性质的分析仪器。

核心定位与功能

ELSZneo 是 ELSZ 系列中的旗舰型号，集成了多种测量功能于一体。它不仅能测量传统的zeta电位和粒径，还能测定分子量，并具备一些较新的扩展分析能力。

主要技术特点

• 宽浓度范围：支持从稀薄溶液到浓厚溶液（最高可达约40%）的直接测量，无需稀释。

• 多角度测量：采用多角度检测技术，旨在提升粒度分布的分离度与分辨率。

• 微量与高盐测量：配备超微量样品池，仅需 3μL 即可测量粒径；新型平板样品池支持在高盐浓度（如生理盐水）下测量表面zeta电位。

• 扩展分析能力：除了基础测量，还可进行粒子浓度测定、微流变学测量以及凝胶网络结构分析。

• 温度控制：支持 0~90℃ 的宽范围温度控制，并具备温度梯度功能，可用于分析蛋白质等的变性或相变温度。

测量原理

• 粒径：动态光散射法（光子相关法）。

• Zeta电位：电泳光散射法（激光多普勒法）。

• 分子量：静态光散射法。

应用领域

该设备广泛应用于界面化学、无机材料、生命科学、半导体、高分子、制药等领域，适用于微粒子、薄膜及平板状样品的表面科学研究。