更新时间:2026-06-02
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测量UV 照度(mW/cm²)、峰值照度、累积光量(mJ/cm²)、温度。
适配172/254/313/365/405 nm多波段(换探头)。
用于 UV 固化、PCB 曝光、杀菌、半导体 / 光学制程质检。
显示:LCD,照度 4 位、累积光量 5 位。
精度:±5%,线性度 ±1%(NIST 溯源校准)。
量程:3 档自动 / 手动切换。
数据记录:最长 4 分钟照度分布记录;0–1V 模拟输出。
通信:RS-232C 串口,可连 PC 导出数据。
供电:3 节 AAA 电池 / 外接电源;约 250g,便携。
探头:可换(UVD-S/C 系列),支持 5 波长。
UVD-C254:254 nm(UVC,杀菌)
UVD-C365:365 nm(UVA,固化)
UVD-C405:405 nm(UV-LED)
UVD-S172/313:真空紫外 / UVB 专用
开机选探头与波长,自动归零后测量。
可测实时 / 峰值照度、累积光量、温度。
建议每 6 个月校准一次,确保精度。
UIT-250:标准型,电池供电,基础记录与串口。
UIT-250A:增强型,支持外接电源与更长电缆。
版权所有:玉崎科学仪器(深圳)有限公司
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