玉崎代理OTSUKA ELSZneo电位粒径分子量测量系统

型号：ELSZneo（衍生简化版：ELSZneo‑SE）品牌：日本大冢电子（OTSUKA，国内主体：大冢电子 (苏州)），Zeta 电位・粒径・分子量一体化旗舰分析仪

关键特点

1. 超宽样品浓度：可测原液最高约40%，大量样品无需稀释；粒径低 0.00001%、Zeta 低 0.001%

2. 多角度散射（前 / 侧 / 后三角度）：提升多分散样品粒度分布分辨能力，可分开重叠峰ヤマト科学

3. 平板样品池：高盐条件（154 mM NaCl）也可测固体表面 Zeta 电位，适合薄膜、涂层材料

4. 温控 0‑90℃，带温度梯度扫描：蛋白质变性、相变、熔融温度分析

5. 同一个流通池，不换样品即可连续测粒径 + Zeta 电位；微量测量低 3 μL

6. 实测电渗流补偿，Zeta 电位精度高；APD 高灵敏度探测器，半导体激光光源

7. 主机：330×565×245 mm，重量 22 kg，220V 供电大塚电子(...

ELSZneo vs ELSZneo‑SE 区别

• ELSZneo：完整高配，带多角度粒度、分子量、微流变、凝胶分析、粒子浓度全部功能

• ELSZneo‑SE：基础版，仅保留粒径 + Zeta 电位；分子量、多角度、微流变等作为选件按需选配，成本更低

典型应用

纳米粉体、乳液、脂质体、蛋白、胶体、涂料、电池浆料、凝胶材料、高分子溶液、表面涂层 Zeta 评价。